SK-MCACEM3 ECTSQ3EnglishMaster
Applied Cryo-Electron Microscopy
FaculteitFaculty of Science
NiveauMaster
Studiejaar2026-2027
Beschrijving
Course goals
- Describe important hardware components of the electron microscope, and relate the hardware to the expected data quality
- Understand sample preparation requirements and strategies for single particle analysis and tomography
- Evaluate raw data quality using established metrics
- Perform tomographic and single particle reconstructions from raw data
| Toetsvorm | Omschrijving | Weging |
| Practicals | Demonstrate ability to do critically assess and process data | 20 |
| Presentation |
Presentation of cryo-EM literature to fellow students and teachers | 30 |
| Test | Written test covering course content | 50 |
Content
|
Reviews0 reviews
Nog geen reviews voor dit vak. Wees de eerste!
Heb jij dit vak gevolgd?
Deel je ervaring met toekomstige studenten. Inloggen met je Universiteit Utrecht mailadres duurt één minuut.
Schrijf een review